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花鍵環(huán)規(guī)使用方法

1. 綜合通端環(huán)規(guī)：
   用于控制工件外花鍵的作用齒厚最大值和漸開(kāi)線(xiàn)起始圓直徑最大值，使用時(shí)應(yīng)*通過(guò)整個(gè)被測(cè)花鍵。
   被綜合通端環(huán)規(guī)通過(guò)的，說(shuō)明工件外花鍵的總公差（T+λ）符合極限要求，滿(mǎn)足花鍵配合。但綜合通端環(huán)規(guī)不能判斷工件外花鍵的制造公差T、綜合公差λ各自的符合性，需要通過(guò)測(cè)量工件外花鍵的實(shí)際齒厚（跨棒距），或者對(duì)工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進(jìn)行單項(xiàng)測(cè)量后分析觀(guān)察來(lái)確認(rèn)。
   如果被綜合通端環(huán)規(guī)止住的，環(huán)規(guī)是提供不了止住的具體原因，這同樣需要通過(guò)測(cè)量工件外花鍵的實(shí)際齒厚（跨棒距），或者對(duì)工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進(jìn)行單項(xiàng)測(cè)量后分析觀(guān)察來(lái)確認(rèn)。

2、綜合止端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的作用齒厚最小值 Svmin,使用時(shí)不應(yīng)進(jìn)入被測(cè)花鍵。
被綜合止端環(huán)規(guī)止住的，說(shuō)明工件外花鍵的總公差（T+λ）符合極限要求。但綜合止端環(huán)規(guī)不能判斷工件外花鍵的制造公差T、綜合公差λ各自的符合性，需要通過(guò)測(cè)量工件外花鍵的實(shí)際齒厚（跨棒距），或者對(duì)工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進(jìn)行單項(xiàng)測(cè)量后分析觀(guān)察來(lái)確認(rèn)。
如果被綜合止端環(huán)規(guī)通過(guò)的，說(shuō)明工件外花鍵的總公差（T+λ）超過(guò)了極限要求，但綜合止端環(huán)規(guī)不能判斷是工件外花鍵的制造公差T還是綜合公差λ的不符合性，同樣需要通過(guò)測(cè)量工件外花鍵的實(shí)際齒厚（跨棒距），或者對(duì)工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進(jìn)行單項(xiàng)測(cè)量后分析觀(guān)察來(lái)確認(rèn)。
3、非全齒通端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的實(shí)際齒厚最大值Smax 和漸開(kāi)線(xiàn)起始圓直徑最大值，使用時(shí)應(yīng)*通過(guò)整個(gè)被測(cè)花鍵，檢驗(yàn)應(yīng)該至少分布在三個(gè)盡可能等分的位置。
如果被非全齒通端環(huán)規(guī)止住，說(shuō)明工件外花鍵實(shí)際齒厚最大值（跨棒距上極限）超過(guò)了極限要求。
4、非全齒止端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的實(shí)際齒厚最小值Smin, 使用時(shí)不應(yīng)進(jìn)入被測(cè)花鍵，檢驗(yàn)應(yīng)該至少分布在三個(gè)盡可能等分的位置。
如果被非全齒止端環(huán)規(guī)通過(guò)，說(shuō)明工件外花鍵實(shí)際厚最小值（跨棒距下極限）超過(guò)了極限要求。
如果進(jìn)入被測(cè)花鍵不超過(guò)工件花鍵長(zhǎng)度的1/3時(shí)，考慮工件花鍵加工刀具的耐用性與成本，工件外花鍵也可以被接受，當(dāng)然這取決于使用單位。
5、工件外花鍵檢驗(yàn)方法：
工件外花鍵的檢測(cè)方法一般采用綜合通端環(huán)規(guī)和非全齒止端環(huán)規(guī)的這種組合形式來(lái)控制。
6、花鍵環(huán)規(guī)使用規(guī)則爭(zhēng)議的判定
花鍵環(huán)規(guī)應(yīng)該用在對(duì)工件外花鍵不產(chǎn)生任何外力破壞的情況下。
在檢驗(yàn)工件外花鍵中發(fā)生爭(zhēng)議時(shí)，如果花鍵環(huán)規(guī)是符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，且經(jīng)計(jì)量檢驗(yàn)合格的，則花鍵環(huán)規(guī)是合格的，如果該工件外花鍵被環(huán)規(guī)驗(yàn)收合格，則改工件也應(yīng)作為合格處理。
如果同類(lèi)別有兩個(gè)或多個(gè)符合圖紙要求的花鍵環(huán)規(guī)，且經(jīng)計(jì)量檢驗(yàn)都是合格的，但檢測(cè)工件外花鍵時(shí)產(chǎn)生了爭(zhēng)議，那么判斷工件外花鍵合格的花鍵環(huán)規(guī)應(yīng)該被優(yōu)先使用。
由于齒距累積誤差包括了分度誤差和花鍵實(shí)際軸線(xiàn)相對(duì)于加工基準(zhǔn)或測(cè)量基準(zhǔn)的偏心兩部分，該偏心對(duì)用于檢測(cè)花鍵配合形式為齒側(cè)配合的花鍵環(huán)規(guī)是沒(méi)有影響的，因此應(yīng)將分度誤差同花鍵的偏心分離開(kāi)來(lái)，即花鍵環(huán)規(guī)的齒距累積誤差判定應(yīng)該是在偏心量為零的情況